免费下载 NBT 47013.3-2015 承压设备无损检测 第3部分 超声检测

4  一般要求

4.1  人员

修改概述:增加了4.1.2条文。

4.1.1  超声检测人员的一般要求应符合NB/T 47013.1的有关规定。

4.1.2  超声检测人员应具有一定的金属材料、设备制造安装、焊接及热处理等方面的基本知识应熟悉被检工件的材质、几何尺寸及透声性等对检测中出现的问题能作出分析、判断和处理。

解释:
对超声检测人员提出了更高的要求即不仅会操作仪器还要具备一定的基础知识并对检测出现的问题作出判定这一点对超声检测来说尤为重要。

4.2  设备和器材

修改概述:对设备、探头、试块和耦合剂等都提出了新的要求。

4.2.1  设备和器材产品质量合格证

超声检测仪产品质量合格证中至少应给出预热时间、低电压报警或低电压自动关机电压、发射脉冲重复频率、有效输出阻抗、发射脉冲电压、发射脉冲上升时间、发射脉冲宽度(采用方波脉冲作为发射脉冲的)和接收器频带等主要性能参数;探头产品质量合格证中至少应给出中心频率、带宽、电阻抗或静电容、相对脉冲回波灵敏度、脉冲宽度以及声束性能(包括探头入射点、折射角(K值)、主声束偏离、偏向角及偏移、声束扩散角等)等主要参数。

解释:

2005版只要求超声检测设备具有产品质量合格证或合格的证明文件。现列出了至少要包括的项目并有相应指标的要求。

4.2.2  检测仪器、探头和系统性能

4.2.2.1  检测仪器

采用A型脉冲反射式超声检测仪其工作频率按-3dB测量应至少包括0.5MHz10MHz频率范围超声仪器各性能指标和测试条件按照附录A(规范性附录)中的要求测试方法按GB/T 27664.1的规定。

 

解释:

工作频率范围为0.510MHz应按-3dB法测量得出;

其他性能指标见附录A

4.2.2.2  探头

圆形晶片直径一般不应大于40mm方形晶片任一边 长一般不应大于40mm其性能指标应符合附录B(规范性附录)的要求,粗糙度仪测试方法按GB/T 27664.2的规定。

4.2.2.3  仪器和探头的组合性能

4.2.2.3.1  仪器和探头的组合性能包括水平线性、垂直线性、组合频率、灵敏度余量、盲区(仅限直探头)和远场分辨力。

4.2.2.3.2  以下情况时应测定仪器和探头的组合性能:

a) 新购置的超声仪器和(或)探头;

b) 仪器和探头在维修或更换主要部件后;

c) 检测人员有怀疑时。

解释:

晶片尺寸上限从25mm放宽到40mm

探头性能指标见附录B2005版标准的要求具体且全面。

4.2.2.3.3  水平线性偏差不大于1%垂直线性偏差不大于5%

4.2.2.3.4  仪器和探头的组合频率与探头标称频率之间偏差不得大于±10%

4.2.2.3.5  仪器-直探头组合性能要求

a) 灵敏度余量应不小于32dB

b) 在基准灵敏度下对于标称频率为5MHz的探头,风速仪盲区不大于10mm;对于标称频率为2.5MHz的探头盲区不大于15mm

c) 直探头远场分辨力不小于20dB

解释:

灵敏度余量为新增加要求;

直探头远场分辨力从30dB改为20dB

4.2.2.3.6  仪器-斜探头组合性能要求

a) 灵敏度余量应不小于42dB

b) 斜探头远场分辨力不小于12dB

4.2.2.3.7  在达到所探工件的最大检测声程时其有效灵敏度余量应不小于10dB

4.2.2.3.8  仪器和探头组合频率的测试方法按JB/T 10062的规定其它组合性能的测试方法按JB/T 9214的规定。

解释:

灵敏度余量为新增加要求;

斜探头远场分辨力从6dB改为12dB

4.2.3  试块

修改概述:对标准试块和对比试块重新进行定义与2005版有较大的不同。

4.2.3.1  标准试块

4.2.3.1.1  标准试块是指具有规定的化学成分、表面粗糙度、热处理及几何形状的材料块用于评定和校准超声检测设备,粗糙度仪维修即用于仪器探头系统性能校准的试块。本部分采用的标准试块为20号优质碳素结构钢制的CSK-IADZ-1DB-PZ20-2

4.2.3.1.2  CSK-IA试块的具体形状、尺寸见本部分。 DZ-1DB-PZ20-2的具体形状和尺寸见JB/T9214

4.2.3.1.3 标准试块制造商应满足JB/T8428的要求试块制造商应提供产品质量合格证并确保在相同测试条件下比较其所制造的每一标准试块与国家标准样品或类似具备量值传递基准的标准试块上的同种反射体(面)时其最大反射波幅差应小于等于2dB

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